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規(guī)格:LET-2000D系列是力鈦科公司開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9標準的半導體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要半導體動態(tài)參數(shù)的場景所遇到的困難。特別對于第三代半導體的

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動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)的簡單介紹

LET-2000D系列是力鈦科公司開發(fā)出的滿足IEC60747-8/9標準的半導體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要半導體動態(tài)參數(shù)的場景所遇到的困

動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)的詳細信息

動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)硬件優(yōu)勢:

1. 采用發(fā)布的12 bit 示波器:正確反映波形的細節(jié),并準確計算出參數(shù)

2. 采用首先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng),解決SIC/GAN的 測試難點

3. 高帶寬的電壓和電流探測,彌補一般系統(tǒng)對SIC/GAN的測量要求

4.可以滿足上/下管測試,避免頻繁連接探頭

5.電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴展

6.器件驅(qū)動設(shè)計支持SIC/GAN器件

7.系統(tǒng)帶寬:>400MHz

8. 系統(tǒng)可以定制

動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)軟件特點:

1.測量參數(shù)齊全:開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復參數(shù)

2.支持器件類型多:單管/模塊、MOSFET、IGBT、FWD、GTR …

3.測試方式:單脈沖、多脈沖

4. 離線數(shù)據(jù)分析:既可以在線測量,也可以記錄數(shù)據(jù)離線分析

5.測試UI符合工程師的使用習慣

6.測量項目及器件支持擴展

系統(tǒng)參數(shù):
● 測量電壓:標配2000V覆蓋650V,1200V,1700V器件的測試。 可升 級到10000V。
● 測量電流:標配200A,覆蓋單管、及部分模塊的測量。 可升級到6000A。
● 短路電流:2000A
● 測量參數(shù):Vce/Vds,Ic/Id,Vgs/Vge,toff, td(off), tf(Ic),Eoff, Ton, td(on), tr(Ic), Eon, dI/dt, dv/dt, Err, Qrr, trr, Irr 等。
● 測量項目: 開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復參數(shù)、安全工作區(qū)等
● 測量器件:單管/模塊,MOSFET、IGBT、FWD、GTR…
● 系統(tǒng)帶寬:350MHz、500MHz、1GHz
● 測量通道:4CH
● 雙脈沖脈寬:最小20ns,最大150us。
● 雙脈沖數(shù):單脈沖、2-30脈沖
● 測量依據(jù)標準:IEC60747-8 and IEC60747-9、 JEDEC JEP173


以上是動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)的詳細信息,如果您對動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)的價格、廠家、型號、圖片有任何疑問,請聯(lián)系我們獲取動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)的最新信息

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